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          激光粒度分析儀

          簡要描述:

          LT2200E是真理光學基于多年的科研成果開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統,其多項技術性能和指標均超過當前激光粒度儀的水平,成為當今粒度儀市場具有性價比的產品之一。

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          LT2200E激光粒度分析儀加持了以下多項創新和技術:

          ◆ 偏振濾波技術

          ◆ 衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術

          ◆ 斜入射反傅里葉光路配置

          ◆ 格柵式大角度檢測陣列技術

          ◆ 粒度分析模式優化及自適應技術

          ◆ 連續液位感知及控制技術

          ◆ 高靈敏度光能跟蹤及穩定技術

           

          LT2200E光學測量系統的性能還包括:

          ◆ 符合ISO13320衍射法測量技術標準

          ◆ *的光路配置,超大連續的物理測量角度
          ◆ 改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧的分辨率和穩定性
          ◆ 無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.1微米至1200微米
          ◆ 實時測量頻率高達每秒2000Hz,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
          ◆ 采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
          ◆ 采用偏振空間濾波技術,摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器

           

           

          激光粒度分析儀技術參數:

           

          項目

           

          指標

               

          測量原理

           

          激光衍射

          光學模型

           

          全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選

          粒徑范圍

           

          0.1μm-1200μm,無需更換透鏡,不依賴標樣校準

          檢測系統

           

          包含格柵式超大角度,非均勻交叉面積補償檢測器陣列

          測量池

          光源

           

          平行斜置

          集成恒溫系統的638nm,高20mW固體激光器

          空間濾波方式

           

          非針孔式偏振濾波技術

          光學對中系統

           

          智能全自動

          測量時間

           

          典型值小于10秒

          測量速度

           

          2000次/秒

           

          Dv50優于±0.6% (NIST可溯源乳膠標樣)

          重復性

           

          Dv50優于±0.5% (NIST可溯源乳膠標樣)

          激光安全

           

          1類激光產品

               

          計算機配置

           

          In i5處理器,4GB內存,250GB硬盤,鼠標,鍵盤和寬屏顯示器

          計算機接口

           

          USB2.0或以上

          軟件運行平臺

           

          Windows7或以上版

          操作環境溫度

           

          5℃-40℃

          操作環境濕度

           

          10%-85%相對濕度(無結凝)

          電源要求

           

          交流220V,50Hz-60Hz,標準接地

               

          光學系統重量

           

          30kg

          光學系統尺寸

           

          670mm x 275mm x 320mm

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          化工儀器網

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